First Latin American Workshop on Electron Microscopy: Material and Life Sciences, Microelectronics and E-Beam Lithography

Estimado Colega:

Es muy grato para nosotros invitarlo al ‘First Latin American Workshop on Electron Microscopy: Material and Life Sciences, Microelectronics and E-Beam Lithography» a llevarse a cabo el 30 de junio y 1º de julio en Centro de Convenciones Salguero Plaza, sito en Jerónimo Salguero 2686, Buenos Aires. El mismo está organizado por el Centro de Microscopías Avanzadas (FCEyN-UBA) y cuenta con el patrocinio de la firma Carl Zeiss NST/Alemania.

Los objetivos del evento son i) promover el encuentro de microscopistas, investigadores y estudiantes de distintas partes del país y de la región, ii) intercambiar experiencias y discutir sobre los últimos avances tecnológicos de la microscopía electrónica en las áreas de instrumentación y métodos, aplicaciones en las ciencias biológicas y de los materiales, iii) fortalecer la cooperación entre los participantes, y iv) promover la creación de una red que permita conectar a los distintos grupos de trabajo y facilite la difusión y la coordinación de actividades. El programa del workshop consta de diecisiete exposiciones orales y una mesa redonda de discusión sobre el tema ‘Nanotecnología: un desafío en Argentina’ (ver archivo adjunto).

La entrada es libre y gratuita. La inscripción es electrónica a través de nuestra página web www.lawem08.com.ar. Esperamos su colaboración en la difusión de la reunión.

Será un gusto contar con su presencia. Lo esperamos.

Centro de Microscopías Avanzadas (FCEyN-UBA)
Carl Zeiss NTS/Alemania

Dra. Lía Pietrasanta
Centro de Microscopías Avanzadas
Facultad de Ciencias Exactas y Naturales-UBA
Pabellón I- Ciudad Universitaria
C1428EHA Buenos Aires
Argentina

Tel.: 54 11 4576 3390 ext. 807
FAX: 54 11 4576 3426
E-mail: lia@df.uba.ar
http://www.cma.fcen.uba.ar